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产品名:差式扫描量热仪

简  介:DTA差热分析仪
DTA:差热分析是在程序控制温度下,测量物质与参比物之间的温度差与温度关系的一种技术。差热分析曲线是描述样品与参比物之间的温度(△T)随温度或时间的变化关系。在DTA试验中,样品温度的变化是由于相转变或反应的吸热或放热效应引起的。如:氧化诱导期,相转变,熔化,结晶结构的转变,沸腾,升华,蒸发,脱氢反应,断裂或分解反应,氧化或还原反应,晶格结构的破坏和其他化学反应。

DTA DZ3320A
温度范围 室温~1150℃   
量程范围 0~±2000μV
DTA精度 ±0.1μV
升温速率 1~60℃/min
温度分辨率 0.1℃
温度准确度 ±0.1℃
温度重复性 ±0.1℃

温度控制 升温:程序控制        可根据需要进行参数的调整
降温:风冷 程序控制   可选配 半导体冷却系统、液氮冷却系统 等
恒温:程序控制        恒温时间任意设定
炉体结构 炉体采用上开盖式结构,代替了传统的升降炉体,精度高,易于操作
气氛控制 内含 气体流量计,气氛转换装置
数据接口 USB接口通讯     配套数据线和操作软件
主机显示 汉字大屏  彩色液晶显示  触摸屏
参数标准 配有标准物:用户可自行对温度进行校正  有一键校准功能
基线调整  :用户可通过基线的斜率和截距来调整基线
工作电源 AC 220V   50Hz